Ионный Микроанализ
, метод локального анализа, основанный на регистрации масс-спектров вторичных ионов с микроучастков пов-сти твердых тел. Исследуемый образец в вакууме бомбардируют сфокусированным пучком первичных ионов (Аr+, О 2+, О -, Cs+ . Диаметр пучка 1-100 мкм, энергия 10-15 - 10-16 Дж, плотн. Тока 0,1-10 А/м 2). Первичные ионы при взаимод. С пов-стью упруго и неупруго рассеиваются, перезаряжаются, испытывают многократные соударения с атомами твердого тела. При этом часть атомов вблизи пов-сти получает энергию, достаточную для их эмиссии в вакуум в виде нейтральных частиц (катодное распыление) или в виде вторичных ионов (вторичная ионная эмиссия). Интенсивность эмиссии вторичных ионов i-го элемента (Ii) сильно зависит от параметров первичного ионного пучка (типов ионов, их энергии, плотности тока), анализируемой пробы (характера хим.
Связей, физ. Св-в, потенциала ионизации атомов, работы выхода электронов бомбардируемой пов-сти и др.), давления и состава остаточных газов в приборе. Величина Ii характеризуется величиной вторичного ионного тока (в А) или скоростью счета импульсов (имп/с). Дифференц. Выход вторичных ионов gi = Ki/С i, где .
Дополнительный поиск Ионный Микроанализ 
На нашем сайте Вы найдете значение "Ионный Микроанализ" в словаре Химическая энциклопедия, подробное описание, примеры использования, словосочетания с выражением Ионный Микроанализ, различные варианты толкований, скрытый смысл.
Первая буква "И". Общая длина 18 символа
